CM-4簡易探針臺(tái)
CM系列探針臺(tái)可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等； 外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠；
CS-4小型探針臺(tái)
CS系列探針臺(tái)最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 可滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等。
CL-6系列中端探針臺(tái)
CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)； 可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用
CH-8-D 雙面探針臺(tái)
CINDBESTCH-8-D雙面點(diǎn)針探針臺(tái)可用于晶圓和PCB板測(cè)試，用于需要正面和背面同時(shí)扎針，以實(shí)現(xiàn)各種光/電性能測(cè)試需求的測(cè)試設(shè)備。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項(xiàng)升級(jí)功能。可廣泛應(yīng)用于集成電路、Wafer，LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
CH-8系列綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)； 可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
CH-12 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
CT-6高低溫探針臺(tái)
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜
PCB自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
BG-401A曝光機(jī) 技術(shù)協(xié)議 非常感謝您選購我們的BG-401A曝光機(jī)，我們將竭誠為您提供服務(wù)! 此協(xié)議為 合同的銷售技術(shù)協(xié)議。 BG-401A曝光機(jī)主要用于中小規(guī)模集成電路和半導(dǎo)體元器件制造工藝中的對(duì)準(zhǔn) 及曝光。本產(chǎn)品操作方便、穩(wěn)定性高、重復(fù)性好，并具有較高的性能價(jià)格比，可廣 泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。
