Calibration Substrates
美國GGB射頻測試校準基片。
Differential Calibration Substrates
DifferentialCalibrationSubstrates(fortwo,threeorfourportprobetipcalibrations)
Integrated Balun Probes
1.9GHzIntegratedBalunProbe 2.4GHzIntegratedBalunProbe
Multi-Contact Wedge
描述集成電路IC
Probe Cards
描述
三目體式顯微鏡
cindbestCB-M200是一款長工作距離三目體式顯微鏡，放大倍率最高可達200倍。經濟適用，性價比高。
motic金相顯微鏡
全新的一體化設計，具有優異的光學成像質量，方便使用的正像光學系統，是理想的檢測半導體器件的工具，支持3種激光波長，可在半導體和液晶基板中使用激光切割和薄膜技術。可以廣泛應用于半導體、電子、冶金等行業的制造和研究領域。
Mitutoyo金相顯微鏡
日本三豐長工作距離高倍率金相顯微鏡 使用內置式轉換器使得長工作距離物鏡的操作很簡單。 極易操作的設計：采用正像光學系統(視場中的像與樣品方向相同)并用橡膠把手加大微調手輪。
顯微鏡環形燈
顯微鏡無級調節環形燈
光纖冷光源
特點： 采用開關電源設計，功耗小，光效高。 穩壓范圍寬，輸出電壓穩定。
