創(chuàng)見性人機學(xué)設(shè)計，產(chǎn)品細節(jié)考慮全面。
防靜電------防靜電設(shè)計可以釋放顯微鏡內(nèi)不斷產(chǎn)生的靜電,防止標本被損壞,保證提高產(chǎn)量和降低產(chǎn)品成本
教學(xué)示范，生物工程,IT產(chǎn)業(yè)檢測，材料分析等領(lǐng)域。
與探針臺搭配實物圖：
CM-4 mini probe station
Mini size, modular design, for I-V/C-V, PIV test, optoelectronic test, up to 6 inch wafer, applicable to glove box
CS-4 small probe station
Small size, modular design, light weight, up to 6 inch wafer, for I-V/C-V, PIV, optoelectronic tests, applicable to glove box
CL-6 middle-sized probe station
Modular design, precise screw drive structure, up to 8 inch wafer, upgradable for RF test, high current test and laser repair applications.
CH-8-D
CINDBEST CH-8-D 雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試，用于需要正面和背面同時扎針，以實現(xiàn)各種光/電性能測試需求的測試設(shè)備。該定制探針臺具有優(yōu)良的機械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)，符合人體工程學(xué)，以及多項升級功能�？蓮V泛應(yīng)用于集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)域。
